特許の質と量の両面から効率的に“特許力”を評価する方法

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掲載日:2009/06/30

特許の質と量の両面から効率的に“特許力”を評価する方法


パテント・リザルト


特許の質と量の両面から効率的に“特許力”を評価する方法のセミナー概要 特許の質と量の両面から効率的に“特許力”を評価する方法の申込み



開催日時

2009年7月10日(金)|申込み締切 2009年7月9日(木)
会  場 株式会社パテント・リザルト セミナールーム
東京都台東区浅草橋5-3-2 秋葉原スクエアビル4 階
JR浅草橋駅 西口より徒歩5分

地図はこちら
参加費

無料
定 員

10名
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全社スタッフ |経営者CIO|その他
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