採用:JFK空港、入国審査にNECの顔認証システムを採用

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採用:JFK空港、入国審査にNECの顔認証システムを採用


掲載日:2016/06/15


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 日本電気株式会社(NEC)は、ジョン・F・ケネディ国際空港(JFK空港)に、入国審査用の顔認証システム「NeoFace」を納入したと発表した。

 「NeoFace」では、カメラに顔を向けることで簡単に認証ができる。専用機器不要で利用可能なほか、顔画像を履歴として保存できる。

 JFK空港では、“ビザ免除プログラム”を使って初めて米国に入国する旅行者と、eパスポートを保有する米国籍の帰国者を対象に、同システムの運用を開始しているという。

 同システムはUnisys社を通じて提供された。Unisysが設置した、入国審査用の自動ゲートで読み取ったeパスポートの顔写真データと、ゲートに備え付けられたカメラで撮影した旅行者の顔写真をリアルタイムに照合し、同一人物であるかどうかを優れた精度で判定する。


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