日本NI、半導体テストシステムの開発を支援するソフトをリリース

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日本NI、半導体テストシステムの開発を支援するソフトをリリース


掲載日:2016/04/06


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 日本ナショナルインスツルメンツ株式会社(日本NI)は、半導体テストシステムの開発を担当する技術者向けのテスト管理用ソフトウェア「TestStand Semiconductor Module」をリリースした。

 「TestStand Semiconductor Module」は、半導体テスト用のシステムを構成するコンポーネントを管理し、実行を制御することで、テストシステムの開発・実装(デプロイ)・保守をサポートするテストエグゼクティブ。半導体製造工場で使用する「NI半導体テストシステム(STS:Semiconductor Test System)」と同じプログラミングパラダイムを使い、実験室での特性評価用システムを開発できる。これにより、両システム間の移行作業の短縮を図れる。

 テスト管理用ソフトウェア「NI TestStand」のアドオンツールとして動作し、同ツールをテスト・計測・制御のためのPCベースのプラットフォームである「PXI」や「TestStand」とともに使用することで、「STS」が採用する従来型テストヘッドのアーキテクチャとは別のラック&スタック型の半導体テストシステムを独自に構築することもできる。

 マルチサイト対応のダイナミックなプログラミングをサポートし、テストサイトの数が増えても、それら全体にわたってコードを再利用できる。エディタ機能では、「PXI」計測器と他社製計測器の両方に対応し、直観的にピンのマッピングを行なえるよう設計されている。また、パラメトリックテストの結果をSTDF(Standard Test Data Format)形式で記録できる。


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