採用:Open-Silicon、Mentor Graphicsのテスト手法を採用

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採用:Open-Silicon、Mentor Graphicsのテスト手法を採用


掲載日:2013/09/17


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 米メンター・グラフィックス・コーポレーション(Mentor Graphics)は、ASIC設計企業であるOpen-Silicon,Inc.が「Tessent TestKompress」のセルアウェアテストによりSoCのテスト品質を改善できたことを発表した。

 セルアウェアテストは、標準セル内部のショート、オープン、トランジスタ故障をターゲットにすることによって、従来のstuck-atモデル、遷移故障モデルにより、テストパターンの限界を克服し、DPM(Defect Per Million)を低減するトランジスタレベルのテスト手法。

 Open-Siliconは、プロセスノードの微細化とSoC設計の大型化のために、細かな故障を検出する作業は困難になっているとし、低いDPMが求められるなか、標準セルの境界にある故障だけでなく、セル内部の故障も検出できるテストを求めていたという。Tessentのセルアウェアテスト・ソリューションを使用すると、テストにかかるコストの大幅な増加を防いで、セル内部の故障も検出できるようになるとしている。

 同社は、「Tessent TestKompress」のセルアウェアテスト機能により、従来のシリコンテスト手法では検出できなかったセル内部の故障を検出し、DPMを低減することに成功した同社は、組み込みメモリのat-speedテスト、診断、リペアに対応する「Tessent MemoryBIST」を併用することで、ユーザに提供する製品の信頼性を高め、低いDPMを求めるユーザ向けにこのソリューションを導入する予定であると伝えている。


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